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半导体参数测试系统

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半导体参数测试系统

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仪器编号:登录后查看

所属平台: 其他

仪器状态:

所属单位: 浙江大学 > 工程师学院 > 信息与微电子平台 > 微电子实验室

仪器生产商: TEKTRONIX

购置日期: 2018-04-19

使用模式: 送样预约,自主预约

规格型号: 4200A,4200A

放置地址:318

仪器管理员:刘冬

联系电话:登录后查看

工作时间: 09:00-12:00;14:00-18:00
最小可预约时间段: 0.5 小时
最大可预约时间段: 168 小时
日历最小单位: 0.5 小时
最近提前预约时间: 未授权用户: 24小时; 普通资格用户: 24小时; 资深资格用户: 24小时
最远提前预约时间: 初级: 720 小时 0 点; 普通: 720 小时 0 点; 资深: 720 小时 0 点
最大有效预约次数: 5 次/天
无代价撤销预约时间: 1440 分钟
序号 标题 文件数量 添加时间 操作
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暂无数据
仪器介绍: IV,CV,PV,功率测试
主要参数: 1,能实现不同频率下的C-V测试,频率范围:不小于1K-10MHz;2,可测量Cp-G,Cp-D,Cs-D,R-jX,Z-theta等参数;3,电压输入:≥600Vrms;电流输入:≥20Arms4,直流偏置电压范围:≥±30V;5,测试信号电平10mVrms–100mVrms,分辨率1mV;6,能够扩展SMU,无放大情况下能达到:最大电压≥210V,最小电流分辨率≤50fa7,提供标准半导体器件参数测试库、纳米器件参数测试库、WLR可靠性参数测试库、半导体CV参数分析库