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半导体参数测试仪

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半导体参数测试仪

半导体参数测试仪

仪器编号:登录后查看

所属平台: 电子探针集群

仪器状态:

所属单位: 浙江大学 > 航空航天学院 > 航空航天学院(直管)

仪器生产商: 美国泰克

购置日期: 2017-12-07

使用模式: 送样预约

规格型号: 4200A-SCS,N/A

放置地址:108

仪器管理员:刘长影

联系电话:登录后查看

工作时间: 09:00-12:00;14:00-18:00
最小可预约时间段: 0.5 小时
最大可预约时间段: 168 小时
日历最小单位: 0.5 小时
最近提前预约时间: 未授权用户: 24小时; 普通资格用户: 24小时; 资深资格用户: 24小时
最远提前预约时间: 初级: 720 小时 0 点; 普通: 720 小时 0 点; 资深: 720 小时 0 点
最大有效预约次数: 5 次/天
无代价撤销预约时间: 1440 分钟
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仪器介绍:

对器件和材料的C-V,1-V参数分析,对不同材料的工艺参数进行分析和运算,比如掺杂浓度、平带电压、栅面积、开启电压等,通过这些参数评价器件的工艺性能,支持新型半导体器件、新型纳米结构、纳米电子学等相关研究。

主要参数: 1、3个SMU都满足电流表测试量程/分辨率/精度:最小:100na/50fa/30pa,*最大:105ma/50na/3ua2、PA:1个