分析测试管理服务平台

DWL步进式激光直写曝光系统

首页 仪器预览
DWL步进式激光直写曝光系统

DWL步进式激光直写曝光系统

仪器编号:登录后查看

所属平台: 其他

仪器状态:

所属单位: 浙江大学 > 信息与电子工程学院 > 微纳加工中心

仪器生产商: 德国HEIDELBERG INSTRUMENTS

购置日期: 2019-05-27

使用模式: 送样预约,自主预约

规格型号: DWL66+

放置地址:玉泉校区 > 微电子楼(功率器件研究楼) > 一层 > 超净室内103

仪器管理员:孙颖

联系电话:登录后查看

工作时间: 6:30-24:00
最小可预约时间段: 0.25 小时
最大可预约时间段: 168 小时
日历最小单位: 0.25 小时
最近提前预约时间: 未授权用户: 0小时; 普通资格用户: 0小时; 资深资格用户: 0小时
最远提前预约时间: 初级: 12 天 0 点; 普通: 7 天 12 点; 资深: 3 周 0 点
最大有效预约次数: 10 次/天
无代价撤销预约时间: 30 分钟
仪器介绍:

HEIDELBERG DWL66+激光直写系统设备主要用于亚微米尺度图形化及掩膜版制备工艺,并具备在各种衬底上进行激光直写光刻工艺、MEMS器件双面套刻、光刻胶灰阶光刻功能(设备本身无灰度曝光功能,灰阶光刻需做特殊处理)。

该设备主要功能:1.光刻掩模版制备;2.微纳图形直写;3.双面套刻。

    传统光刻过程中,需要先利用特定图形的掩模版对光刻胶进行选择性曝光。

    但是在研发阶段,或在转移石墨烯、二硫化钼等二维材料后进行电极制备时,样品图案需要经常修改,而掩模版制作较耗时,不能满足缩短研发周期的需求。

    激光直写系统提供了快捷灵活的解决方案。它可以在不需要掩模版的情况下,直接对光刻胶直写图案,大大缩短研发初期的实验周期,节省时间。

    该设备采用激光作为光源,透过高精度的光学透镜组,最小直写精度可以达到0.6µm,工作台平台定位激光干涉仪分辨率10 nm,能够精准的提高光刻图形的定位精度,提高光刻图形的质量,实现大面积高精度无掩膜直写曝光。

该系统可在涂有光刻胶的各种基片,玻璃,硅片,或其它平面材料上进行图形曝光。广泛应用于光掩模版制备;半导体芯片、MEMS、传感器、MOEMS、集成光学等图形的制作。


主要参数: 1. 最大样品尺寸7inch×7inch。 2. 有效曝光面积200mm×200mm。 3. 最大样品厚度6mm。 4. 样品尺寸要求:边长1.5cm以上。 5. 激光波段:405nm。 6. 激光能量:300mW。 7. 激光写头:高精度2mm(最小线宽0.6µm);普通精度10mm(最小线宽1.5µm),低精度20mm(最小线宽2µm)。 8. 最小特征尺寸:0.6µm、1µm 、2µm。 9. 描绘网格:10nm、50nm、100nm。 10. 线宽均匀性:60nm、130nm、180nm。 11. 套刻对准精度:0.1µm、0.25µm、0.4µm。 12. 光绘速度:6mm2/分钟、150mm2/分钟、600mm2/分钟。
序号 标题 文件数量 添加时间 操作
  • 检测项目名称:Heiderberg DWL66激光直写

    检测资质:wu

    检测单位:微纳加工中心

    仪器数量:1

序号 标题 添加时间
1 DWL激光直写SOP 2026-06-13 18:17:11
2 DWL工艺流程 2026-06-13 10:47:20
3 图形转移工艺流程及设备选用 2026-06-12 22:27:21
备案收费标准 登录后可查看
说明:原则上按备案收费标准执行,实际收费标准可在仪器预约时查看或咨询仪器管理员。