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角分辨X射线光电子能谱仪

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角分辨X射线光电子能谱仪

角分辨X射线光电子能谱仪

仪器编号:登录后查看

所属平台: 其他

仪器状态:

所属单位: 浙江大学 > 材料科学与工程学院 > 硅及先进半导体材料全国重点实验室

仪器生产商: Krato公司

购置日期: 2016-12-29

使用模式: 送样预约

规格型号: AXIS SUPRA,600W单色化Al靶

放置地址:104

仪器管理员:王紫旌

联系电话:登录后查看

工作时间: 09:00-12:00;14:00-18:00
最小可预约时间段: 0.5 小时
最大可预约时间段: 168 小时
日历最小单位: 0.5 小时
最近提前预约时间: 未授权用户: 24小时; 普通资格用户: 24小时; 资深资格用户: 24小时
最远提前预约时间: 初级: 720 小时 0 点; 普通: 720 小时 0 点; 资深: 720 小时 0 点
最大有效预约次数: 5 次/天
无代价撤销预约时间: 1440 分钟
仪器介绍:

对固体样品的元素进行成分分析,定量或者半定量分析,以及分析固体表面的组成、化学状态。

主要参数: 单色化Al靶、双阳极Al/Mg靶、功率大于等于500W;超高真空系统,样品分析室真空优于5*10^-10Torr;能量分辨优于0.5eV/(Ag3d5/2),0.8eV/(C1s);对样品进行表面元素和价态分布进行成像分析;具有先进的荷电中和技术;可使用离子刻蚀和角分辨功能;样品分析测试具有较高的自动化程度。
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备案收费标准 登录后可查看
说明:原则上按备案收费标准执行,实际收费标准可在仪器预约时查看或咨询仪器管理员。