台式X射线吸收精细结构谱仪

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仪器介绍
主要参数

工作时间：	08:30-17:00
最小可预约时间段：	0.5 小时
最大可预约时间段：	168 小时
日历最小单位：	0.5 小时
最近提前预约时间：	未授权用户: 12小时；普通资格用户: 12小时；资深资格用户: 6小时
最远提前预约时间：	初级: 720 小时 0 点；普通: 720 小时 0 点；资深: 720 小时 0 点
最大有效预约次数：	5 次/天
无代价撤销预约时间：	1440 分钟

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仪器介绍：	台式原位X射线吸收精细结构谱仪(台式XAFS)，采用独有的X射线单色器设计，无需同步辐射光源，在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量和分析，以极高的灵敏度和光源质量，实现对元素的测定、价态和配位数与键长等信息。XAFS广泛应用于材料科学、化学、电池、催化剂、环境、放射性化学、地质、陶瓷等研究领域。台式XAFS能够获得与同步辐射光源数据质量接近的测量结果，帮助实现“想测就测、随时可测”的XAFS自由。本设备目前可测元素为：Fe、Cu、Zn、Ti、Mn、Co、Ni、Cr、Ir、Pt、Au、V、Pb、W、Zr、Pr、Nd、Ce、Hf、Se 收费时长包括I0+Foil+样品测试时长，正常一个样品测试时间为2小时，请按2小时/样/元素预约。多个样品测同一元素，批量送样，可共用I0+Foil。

仪器介绍：

台式原位X射线吸收精细结构谱仪(台式XAFS)，采用独有的X射线单色器设计，无需同步辐射光源，在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量和分析，以极高的灵敏度和光源质量，实现对元素的测定、价态和配位数与键长等信息。XAFS广泛应用于材料科学、化学、电池、催化剂、环境、放射性化学、地质、陶瓷等研究领域。台式XAFS能够获得与同步辐射光源数据质量接近的测量结果，帮助实现“想测就测、随时可测”的XAFS自由。

本设备目前可测元素为：Fe、Cu、Zn、Ti、Mn、Co、Ni、Cr、Ir、Pt、Au、V、Pb、W、Zr、Pr、Nd、Ce、Hf、Se

收费时长包括I0+Foil+样品测试时长，正常一个样品测试时间为2小时，请按2小时/样/元素预约。多个样品测同一元素，批量送样，可共用I0+Foil。

主要参数：	1、能量分辨率：XANES: 0.5-1.5 eV，EXAFS:1.5-10eV； 2、光通量≥2,000,000 photons/s (7~9 keV，≥1200 W光源)； 3、XAFS模式重复性：＜50 meV能量尺度漂移，XES模式重复性：＜25 meV能量尺度漂移；XES核心-空穴生成速率不小于1010/s(7~9keV)；XES模式能量分辨率不大于1-1.5 eV(7~9keV)。