分析测试管理服务平台

场发射透射电子电镜(透射电镜)

首页 仪器预览
场发射透射电子电镜(透射电镜)

场发射透射电子电镜(透射电镜)

仪器编号:登录后查看

所属平台: 电镜集群

仪器状态:

所属单位: 浙江大学 > 材料科学与工程学院 > 电子显微镜中心

仪器生产商: 日本电子 JEOL

购置日期: 2024-07-08

使用模式: 按时预约

规格型号: JEOL JEM F200

放置地址:玉泉校区教十一143室

仪器管理员:林清云

联系电话:登录后查看

收藏

预约
工作时间: 09:00-12:00;14:00-18:00
最小可预约时间段: 0.1 小时
最大可预约时间段: 168 小时
日历最小单位: 0.5 小时
最近提前预约时间: 未授权用户: 1小时; 普通资格用户: 1小时; 资深资格用户: 1小时
最远提前预约时间: 初级: 2 周 0 点; 普通: 2 周 0 点; 资深: 2 周 0 点
最大有效预约次数: 5 次/天
无代价撤销预约时间: 1440 分钟
序号 标题 文件数量 添加时间 操作
序号 标题 添加时间
暂无数据
仪器介绍:

可实现TEM像、高分辨像、STEM像、选区电子衍射、纳米束电子衍射、HAADF像、明/暗场像、二次电子/背散射电子成像、微区元素成分分析;

电压连续可调,可实现胶原、牙本质等电子束敏感材料成像;

搭配功能样品杆,可实现加热、通气、电学、力学等原位反应研究以及三维重构等功能;

广泛应用于半导体、催化、金属、能源、钙钛矿及生物医学等领域的物质结构及成分演化过程的微观机理研究;

服务院系单位:在材料科学、医学、物理学、化学化工、环境、冶金工程、力学等领域皆可应用


主要参数: 1.成像分辨率: 点分辨率:≤0.19nm@200KV; 线分辨率:≤0.10nm@200KV,≤0.14nm@80KV; STEM分辨率:≤0.16nm@200KV,0.31nm@80KV; HAADF分辨率:≤0.16 nm 2.能谱分辨率:单个SDD芯片面积≥100 mm2 ,总面积≥200 mm2,能量分辨率:122ev,元素分析范围:4Be-92U;