仪器编号：登录后查看
所属平台： 电镜集群
仪器状态：
所属单位： 浙江大学 > 材料科学与工程学院 > 电子显微镜中心
仪器生产商： 日本电子 JEOL
购置日期： 2024-07-08
规格型号： JEOL JEM F200
放置地址：143室
仪器管理员：林清云
联系电话：登录后查看
| 工作时间： | 09:00-12:00;14:00-18:00 |
|---|---|
| 最小可预约时间段： | 0.1 小时 |
| 最大可预约时间段： | 168 小时 |
| 日历最小单位： | 0.5 小时 |
| 最近提前预约时间： | 未授权用户: 1小时； 普通资格用户: 1小时； 资深资格用户: 1小时 |
| 最远提前预约时间： | 初级: 2 周 0 点； 普通: 2 周 0 点； 资深: 2 周 0 点 |
| 最大有效预约次数： | 5 次/天 |
| 无代价撤销预约时间： | 1440 分钟 |
| 序号 | 标题 | 文件数量 | 添加时间 | 操作 |
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| 序号 | 标题 | 添加时间 |
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| 暂无数据 | ||
| 仪器介绍： | 仪器功能：本设备可实现TEM形貌像、高分辨晶格像HR-TEM、STEM-HAADF像、选区电子衍射SAED、纳米束电子衍射NBD、明/暗场像、二次电子SEI/背散射电子BEI成像、微区元素成分精确分析（EDS-Mapping）； 应用领域：广泛应用于半导体、催化、金属、能源、钙钛矿及生物医学等领域的物质结构及成分演化过程的微观机理研究；在材料科学、医学、物理学、化学化工、环境、冶金工程、力学等领域皆可应用； 支撑成效：现已支撑用户在Nature、Science、Nature Nanotechnology、Nature Cancer、Nature Communication、Science Advances、Advanced Materials、PRL等国际顶尖期刊发表论文。 仪器特色服务： 1.60kV/80kV/120kV/200kV多种电压模式连续可调:可实现胶原、细胞、皮肤组织、牙本质等电子束敏感材料低剂量无损高分辨显微结构与成分同步表征； 2.高速无窗双探头超级能谱仪：探测总面积≥200mm2，分辨率达122eV，搭载漂移校正软件及铍双倾杆，可实现超高分辨无漂移的EDS-Mapping； 3.独有的二次电子（SEI）/背散射电子（BEI）探测器：可同步实现透射和扫描模式成像，同时获取材料内部结构和表面形貌信息； 4.原位加热测试（含芯片制样）：可实现各类样品在不同温度条件下结构与成分演化过程的纳米尺度实时观测； 5.全自动进出样品杆系统：简便、安全、快速地全自动进出样品杆，极大提高用户自主上机便利性； 6.用户自主上机培训：面向有长期使用需求的用户，提供针对性上机操作培训；可协助用户使用及培训自备的其他多功能样品杆； 本机组可提供透射电镜测试、上机培训、数据分析指导、实验方案设计等服务，可联系微信号：JEOLJEMF200 |
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| 主要参数： | 1.成像分辨率： 点分辨率：≤0.19nm@200KV; 线分辨率：≤0.10nm@200KV，≤0.14nm@80KV; STEM分辨率：≤0.16nm@200KV，0.31nm@80KV; HAADF分辨率：≤0.16 nm 2.能谱分辨率：单个SDD芯片面积≥100 mm2 ，总面积≥200 mm2，能量分辨率：122ev，元素分析范围：4Be-92U； |
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