仪器编号：登录后查看
所属平台： 其他
仪器状态：
所属单位： 浙江大学 > 高分子科学与工程学系 > 高分子科学与工程学系（直管）
仪器生产商： J.A. Woollam
购置日期： 2018-05-10
规格型号： M-2000,S/N1712055
放置地址：紫金港校区 > 和同苑7幢（高分子大楼） > 二层 > 高2-203
仪器管理员：李凯
联系电话：登录后查看
| 工作时间： | 09:00-18:00 |
|---|---|
| 最小可预约时间段： | 0.5 小时 |
| 最大可预约时间段： | 24 小时 |
| 日历最小单位： | 0.25 小时 |
| 最近提前预约时间： | 未授权用户: 0.5小时； 普通资格用户: 0小时； 资深资格用户: 0小时 |
| 最远提前预约时间： | 初级: 168 小时 0 点； 普通: 720 小时 0 点； 资深: 720 小时 0 点 |
| 最大有效预约次数： | 5 次/天 |
| 无代价撤销预约时间： | 360 分钟 |
| 仪器介绍： | 功能:测量（分析）各类薄膜的厚度（纳米量级）及折射率，大块材料的折射率；分析材料的微结构特性及变化，组分比等。 |
| 主要参数： | 1.光谱范围：193-1690nm（可选）2.光谱测试间隔：优于1.6nm(100nm)3.补偿方式：双旋转补偿4.变角方式：计算机控制自动变角，变角范围：45-90o5.测量速度：全光谱测量1-10秒6.直射测量准确性：Psi:45°±0.02°；Delta:0°±0.05（测试空光束，测量时间为10秒，所有测量波长点的95%满足）7.重复性:0.005nm(30次2nmSiO2膜厚测量的标准偏差)8.数据分析软件 |
| 序号 | 标题 | 文件数量 | 添加时间 | 操作 |
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| 序号 | 标题 | 添加时间 |
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| 暂无数据 | ||
