仪器编号：登录后查看
所属平台： 其他
仪器状态：
所属单位： 浙江大学 > 高分子科学与工程学系 > 高分子科学与工程学系（直管）
仪器生产商： J.A.Woollam
购置日期： 2007-12-11
规格型号： M-2000,*
放置地址：紫金港校区 > 和同苑6幢（高分子大楼） > 三层 > 高2-319
仪器管理员：钟子龙
联系电话：登录后查看
| 工作时间： | 09:00-12:00;14:00-18:00 |
|---|---|
| 最小可预约时间段： | 0.5 小时 |
| 最大可预约时间段： | 168 小时 |
| 日历最小单位： | 0.5 小时 |
| 最近提前预约时间： | 未授权用户: 24小时； 普通资格用户: 24小时； 资深资格用户: 24小时 |
| 最远提前预约时间： | 初级: 720 小时 0 点； 普通: 720 小时 0 点； 资深: 720 小时 0 点 |
| 最大有效预约次数： | 5 次/天 |
| 无代价撤销预约时间： | 1440 分钟 |
| 仪器介绍： | 光谱范围为190～1700nm，分辨率3.0nm；入射角可在45～90°范围内连续自动可调；光斑直径2～5mm，发散度0.5°。2.测量速度快，可以实现多波长同时检测及实时在线跟踪。3.具有样品加热台、液体池、光斑聚焦等附件。可变温和在液态下测量。 椭偏仪首先测量偏振光经样品表面反射后偏振态的变化(Ψ和Δ)，然后建立模型拟合数据，得到结果。可用来探测材料的光学常数、薄膜厚度以及材料微结构等特性，测量对样品无破坏性。可测的样品包括大块材料、薄膜以及在平面基底上生长或沉积的多层结构。其主要功能包括：测量材料的光学常数，多层膜厚度，材料梯度，表面与界面粗糙度，结晶度，合金组分比例，材料的各向异性等等。 |
| 主要参数： | 薄膜厚度和折光指数 |
| 序号 | 标题 | 文件数量 | 添加时间 | 操作 |
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| 序号 | 标题 | 添加时间 |
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| 暂无数据 | ||
