X 射线衍射仪（X-ray Diffraction, XRD）是一种基于 X 射线与晶体物质相互作用原理的结构分析仪器，主要用于材料的物相鉴定、晶体结构分析及微观结构表征。本实验室配备的XRD 兼具体积小、操作简便、性能稳定和信噪比高等特点，可对粉末和块体样品进行快速、可靠的物相鉴别与Rietveld分析；附带加热模块，可进行简单的变温测量（室温-400摄氏度）