本课题组配备Advance-RIKO 公司生产的 ZEM-3 热电性能测试系统，可用于半导体材料在不同温度条件下的塞贝克系数与电导率的精确测量。该仪器采用直流四探针法与差分热电势测量技术，可在同一测试过程中同步获得材料的塞贝克系数、电导率等关键热电参数，测试结果稳定可靠、重复性好。

ZEM-3 适用于多种半导体材料的电学性能测试，包括块体材料、烧结样品、切割样品及薄膜等，广泛应用于热电材料性能表征、材料筛选及机理研究