基本信息

  • 生产厂商 荷兰PANalytical B.V.
  • 资产编号 12020067
  • 资产负责人 刘芙
  • 购置日期2012-12-12
  • 仪器价格200.00 万元
  • 仪器产地荷兰
  • 仪器供应商
  • 购买经办人
  • 主要配件
  • 主要参数X射线发生器和机柜:最大输出功率:3kW最大管压:60kV,PIXcel3D全能2维矩阵探测器计数矩阵:256x256pixcel像素大小:55mx55m99%线性范围:1x1010cps静态扫描范围:6.5最小背景:1cps工作方式:0维(点探测器),1维(阵列探测器模式),2维(面探测器模式),3维(CT探测器模式)保证分辨率:0.0282(NIST660a样品)

仪器介绍

可以测定样品在中低温和高温范围的晶体结构特征。包括不同温区样品的晶体结构,物相定性、定量分析,晶格常数测定,晶粒大小测定与晶胞畸变及结晶度分析,物相丰度定量分析,纳米样品粒径、空孔尺寸分析等。特别适合用于各种材料在不同温度时物相变化的定性、定量分析研究,样品材料可以包括无机材料、有机材料、复合材料、纳米材料等粉末、块状、薄膜、微区微量样品。本仪器可在材料、化工、高分子科学、物理、化学、生物、制药等学科实现共享。