可以精确测定无机材料等小分子单晶颗粒物质的晶体结构特征，如结晶物质的三维空间结构（包括键长、键角、构型、构象乃至成键电子密度等），分析孪晶、无公度晶体、准晶等特殊材料结构。系统配置包括高灵敏度CCD探测器、高稳定性X射线发生器、长寿命X光管、测角仪、计算机控制系统以及控制、数据收集和分析处理软件等。本仪器可在材料、物理、化学、化工等学科实现共享。