原子力显微镜是对样品表面进行纳米尺度形貌与物性分析的利器，可在三维空间实现原子级的高分辨率成像与测量；能够直观地观测样品表面形貌，细致分析表面粗糙度、力学及电学等精细物性；适用于材料科学、半导体技术、高分子科学、生命科学、纳米技术领域的研究。检测项目：气相或液相下形貌、表面粗糙度分析、力曲线测量、定量纳米力学成像、导电原子力显微镜（C-AFM）、开尔文探针力显微镜（KPFM）、压电力显微镜（PFM）、扫描扩散电阻显微镜（SSRM）等。