日本电子（JEOL）JSM-IT800场发射扫描电子显微镜，该仪器具有超高分辨率，能观察各种固态样品表面形貌的二次电子像、背散射电子像，配备超大窗口SDD探头的高性能X射线能谱仪，同时进行样品表层的EDS微区（点、线、面元素扫描）定性、半定量及定量分析，测试范围Be4-U92元素，具有形貌、化学组分综合分析能力。与一般钨灯丝扫描电镜相比，它能以更高的分辨率观察固体样品表面显微结构和形貌，对金属、无机非金属、高分子、纳米等材料的表面超微结构形貌进行分析。此外，本仪器还配备电子背散射衍射系统（EBSD），可对平整样品进行分析，通过衍射条带进行物相鉴定、LPO取向分析、极图分析等；配备阴极荧光谱仪（CL），可获得样品的全光、分光图像。