蔡司Xradia 610 Versa 高分辨率X-射线显微镜能够在不破坏样本的情况下获得样本内部的三维结构信息。该仪器拥有独特的两级光学放大机构，突破了传统CT无法对大样本进行高分辨率扫描的技术瓶颈，实现了为大样本提供超高分辨率的三维成像，极大的提高了样本内部三维微结构解析的解析能力。X-射线三维显微成像广泛应用于材料缺陷检测，应变分析，锂电池老化观测，古生物演化，土壤孔隙结构解析，全岩心分析，碳纤维原位分析等研究，具有广泛的科研用途。