基本信息

  • 生产厂商 日本电子 JEOL
  • 资产编号 24012683
  • 资产负责人 王勇
  • 购置日期2024-07-08
  • 仪器价格609.00 万元
  • 仪器产地日本
  • 仪器供应商
  • 购买经办人
  • 主要配件 1.肖特基热场发射电子枪; 2.X射线超级能谱分析仪,总探测面积≥200 mm2; 3.配备有明场像/暗场像/二次电子/背散射电子探头,可同步进行透射/扫描透射/表面形貌成像观察; 4.配置全自动进出样品杆系统,操作简便易上手; 5.配备有单倾杆/Be双倾杆/四头多样品杆/3D重构样品杆; 6.配置HR极靴,可实现3D重构操作; 7.配置数字化照相系统,CMOS相机像素点:5472*3648; 8.加速电压:20~200KV,加速电压连续可调,可实现电子束辐照敏感材料成像;
  • 主要参数1.成像分辨率: 点分辨率:≤0.19nm@200KV; 线分辨率:≤0.10nm@200KV,≤0.14nm@80KV; STEM分辨率:≤0.16nm@200KV,0.31nm@80KV; HAADF分辨率:≤0.16 nm 2.能谱分辨率:单个SDD芯片面积≥100 mm2 ,总面积≥200 mm2,能量分辨率:122ev,元素分析范围:4Be-92U;

仪器介绍

可实现TEM像、高分辨像、STEM像、选区电子衍射、纳米束电子衍射、HAADF像、明/暗场像、二次电子/背散射电子成像、微区元素成分分析;

电压连续可调,可实现胶原、牙本质等电子束敏感材料成像;

搭配功能样品杆,可实现加热、通气、电学、力学等原位反应研究以及三维重构等功能;

广泛应用于半导体、催化、金属、能源、钙钛矿及生物医学等领域的物质结构及成分演化过程的微观机理研究;

服务院系单位:在材料科学、医学、物理学、化学化工、环境、冶金工程、力学等领域皆可应用