基本信息

  • 生产厂商 日本株式会社理学
  • 资产编号 24005527
  • 资产负责人 ----
  • 购置日期2022-02-23
  • 仪器价格253.65 万元
  • 仪器产地日本
  • 仪器供应商浙江纳德科学仪器有限公司
  • 购买经办人
  • 主要配件 X射线光源---（产生特征X射线） 高精度测角仪---（测量不同角度样品的衍射信号） 光学狭缝系统和分光镜面系统---（控制X射线通光量及不同光路切换） 半导体新型探测器---（接收X射线衍射信号） 极低温原位附件---（实现极低温测试环境） 高温原位附件----（实现高温测试环境） 控制及分析软件---（控制设备运行、解析特征衍射数据）
  • 主要参数X射线功率：9KW(45KV，200mA) 角度精度：±0.02° 测角重复性：≤ 0.005° 强度的线性上限：> 1x10^4 强度测定的重复性：≤3% 仪器分辨率：≤ 0.25° 低温性能：4.2~300K 高温性能：室温~1200℃ 安全连锁功能：系统“软性”和“硬性”互锁功能及紧急制动功能

仪器介绍

极低温原位X射线衍射仪作为一种材料结构分析设备，可以表征材料的晶体结构和在不同温度环境下晶体结构的转变。广泛应用于晶体结构分析、物相定性、定量分析、晶粒大小分析、结晶度分析、择优取向分析。

测试项目：极低温原位XRD测试；高温原位XRD测试；粉末XRD测试；薄膜XRD测试（阶梯扫描、掠入射测试、摇摆曲线测试、X射线反射率测试）；

接受送样，可提前联系仪器管理员，联系方式：minhuiyu@zju.edu.cn；0573-87572024