具有耗散因子检测功能的石英晶体微天平（QCM-D）可用于测定非常薄层的吸附层的质量，并同步提供粘弹性等结构信息。该设备可对多种不同类型表面的分子相互作用和分子吸附进行研究，同时可以检测分子的结构变化以及吸附与解析的动态过程。这项技术能够覆盖绝大多数环境及生物表面科学研究领域，如微生物及细胞表面吸附、蛋白质相互作用、膜表面吸附/解析、纳米颗粒表面吸附等方面的研究。