运行模式：轻敲模式（tapping-mode）、接触模式（contact-mode）、暗抬起模式（lift-mode）、侧向力模式（LFM）、力曲线及力谱线、扫描近场光学显微镜。

功能介绍：

1. 本台设备支持快速扫描样品表面，获得样品表面包括高度、相位等等在内的形貌信息。

2. 扫描近场光学显微镜：通过和红外光耦合（10.6um），实现扫描近场光学显微镜的功能，可以实现10 nm空间分辨率下材料表面局部光学性质信息，空间分辨率远高于远场光学衍射极限。例如可以在实空间激发和探测样品表面的表面极化激元（表面等离激元、声子极化激元等）。

3. 无掩模版的纳米刻蚀：轻敲模式下利用局域在探针针尖上的交变电场，刻蚀低维材料，刻蚀分辨率高，无需掩模版，样品表面干净。

4. 侧向力模式（LFM）可以实现原子级的晶格扫描成像。