基本信息

  • 生产厂商 捷克FEI
  • 资产编号 15022312
  • 资产负责人 王晋
  • 购置日期2015-12-21
  • 仪器价格312.54 万元
  • 仪器产地美国
  • 仪器供应商捷克FEI
  • 购买经办人
  • 主要配件
  • 主要参数1 Hivac(高真空)模式,对干燥、导电导热良好的试样使用 1) 固体物质高分辨形貌,进行表面几何形态、形状尺寸分析;(SE形貌图) 2) 和样品形貌相对应的元素面分布、线分布、定点化学成分定性/定量分析;(EDS) 3) 基于原子序数衬度、晶体取向衬度的相关分析;(BSE,要求表面平整) 4) 快速的晶体取向测定、取向关系分析,利用取向成像图进行晶体取向/取向差分布、晶粒/相分布、晶界/相界性质研究、晶粒尺寸测量、多晶材料织构分析、应变评估、相鉴别等分析,结合EDS可进行物相鉴定; 2 LV(低真空)和ESEM(环境扫描)模式,适用于非导电或导电性能较差的样品,含水、易挥发、易放气样品 1) 潮湿样品、绝缘样品在自然状态下的形貌分析,样品和环境气氛(目前只有水蒸气)室温下相互作用的动态观察; 2) 结合1000℃/1400℃加热台可以对样品进行特定气氛中(目前有水蒸气、氩气)加热状态下原位动态形貌分析。

仪器介绍

quanta650装有ETD二次电子探头、能谱仪系统,可以将显微形貌、显微成分和显微取向三者集于一体,使显微组织、微区成分与结晶学数据分析很直观地联系起来。此外,电镜还配备有BSE探头、气体环境模式和高温模式专用的GSED以及1000℃/1400℃热台,在保留了常规SEM的全部功能的同时,去除了样品环境必须是高真空的限制,允许改变样品室的压力、温度及气体成分,从传统的金属材料、断口和抛光断面,到不导电的样品、潮湿样品都可得到高质量的图像和分析结果。