对器件和材料的C-V，1-V参数分析，对不同材料的工艺参数进行分析和运算，比如掺杂浓度、平带电压、栅面积、开启电压等，通过这些参数评价器件的工艺性能，支持新型半导体器件、新型纳米结构、纳米电子学等相关研究。