基本信息

  • 生产厂商 FEI
  • 资产编号 11023525
  • 资产负责人 林清云
  • 购置日期2011-12-20
  • 仪器价格2144.12 万元
  • 仪器产地美国
  • 仪器供应商
  • 购买经办人
  • 主要配件 1.Bruker Super-X四探头超级能谱系统 2.先进的相位成像系统实现轻、重元素同时成像、电子束敏感材料高质量成像 3.先进的精密样品台系统提供稳定、亚纳米水平的样品位置精确操纵 4.Point Electronic扫描控制系统 5.GIF系统
  • 主要参数1.加速电压:0~200KV; 2.STEM像(原子像)分辨率:0.08nm; 3.TEM像分辨率:0.11nm; 4.四探头超级EDS能量分辨率:<130 eV/100 kcps; 5.分析元素范围:Be-U; 6.GIF能量分辨率:≤1.1 eV

仪器介绍


仪器功能本设备可实现原子级高分辨STEM像,纳埃微区元素成分精确表征(EDS-Mapping),HAADF像,明/暗场像,能量损失谱分析,高分辨TEM像,选区电子衍射SAED、纳米束电子衍射NBD

应用领域广泛应用于半导体、催化、金属、能源、钙钛矿及生物医学等领域的物质结构及成分演化过程的微观机理研究;在材料科学、医学、物理学、化学化工、环境、冶金工程、力学等领域皆可应用;

支撑成效现已支撑用户在Nature、Science、Nature Nanotechnology、Nature Communication、Science Advances、Advanced Materials、PRL等国际顶尖期刊发表论文


仪器特色服务

  1. 原子像拍摄:原子像分辨率达0.08nm;

  2. iDPC成像:搭载先进的相位成像系统,可实现轻、重元素同时成像、电子束敏感材料高质量成像;

  3. EELS谱分析:电子能量损失谱分析,实现元素价态、成分的精确分析;

  4. Bruker Super-X四探头超级能谱系统:超级EDS-Mapping技术,实现纳埃微区元素成分精确表征;

  5. 先进的精密样品台系统:提供稳定、亚纳米水平的样品位置精确操纵;

  6. Point Electronic扫描控制系统:提供高精度的电子束扫描操纵策略,,有效隆低电子束损伤;


    本机组可提供球差电镜测试、数据分析指导、实验方案设计等服务,可联系微信号:JEOLJEMF200