基本信息

  • 生产厂商 日立
  • 资产编号 11021487
  • 资产负责人 张宇
  • 购置日期2011-12-09
  • 仪器价格189.19 万元
  • 仪器产地日本
  • 仪器供应商
  • 购买经办人
  • 主要配件
  • 主要参数1、分辨率:≤0.8um;2、放大倍率:≥8万倍;3、加速电压:0.2-30KV;4、检测器:具有检测SE和BSE信号功能;5、可选配STEM,EDS,EBSD等附件

仪器介绍

该设备具有高分辨率,能做各种固态样品表面形貌的二次电子像、背散射电子像观察及图像处理。配备X射线能谱仪,能对样品表层的微区点线面元素进行定性及半定量分析,具有形貌、化学组分综合分析能力。与一般扫描电镜相比,它能以更高的分辨率观察固体样品表面显微结构和形貌,是研究材料表面结构与性能关系的重要工具。由于分辨率高,为纳米材料的研究提供了可靠的实验手段。可对金属、无机非金属、高分子材料及生物样品等的表面显微结构和形貌进行分析。。服务内容:将在材料科学、化学、生命科学、医学、化学化工、环境科学、地学等领域的基础研究中应用广泛。