基本信息

  • 生产厂商 日立
  • 资产编号 11021486
  • 资产负责人 YA WANG
  • 购置日期2011-12-09
  • 仪器价格295.54 万元
  • 仪器产地日本
  • 仪器供应商
  • 购买经办人
  • 主要配件
  • 主要参数1、分辨率:≤0.8nm;;2、放大倍率:≥80万倍;3、加速电压:0.2-30KV;4、检测器:具有检测SE和BSE信号功能5、可选配STEM,EDX等附件

仪器介绍

该设备具有高分辨率,能做各种固态样品表面形貌的二次电子像。配备X射线能谱仪,能对样品表层的微区点线面元素进行定性及半定量分析,具有形貌、化学组分综合分析能力。与一般扫描电镜相比,它能以更高的分辨率观察固体样品表面显微结构和形貌,是研究材料表面结构与性能关系的重要工具。由于分辨率高,为纳米材料的研究提供了可靠的实验手段。可对金属、无机非金属、高分子材料及生物样品等的表面显微结构和形貌进行分析。。服务内容:SEM,EDS