适合各种材料从宏观到微观试件的高精度内部结构表征，无损检测，缺陷识别，破坏机理研究等。

配有225 kV与320 kV两个能量不同的X射线源，可实现最高3微米分辨率（样品直径约5 mm）的拍摄；可实现最大直径约250 mm样品拍摄，但由于X射线能量有限，当样品直径过大时或密度较高时，X射线不能穿透，成像效果有限。